JIS規格、電子線分析法は、金属材料の微細構造解析、組成分析、結晶構造解析などに使用されます。

検査・測定

こんにちは、セイゾーです。初心者でも理解しやすいように説明します。その重要性についても説明します。

電子線分析法とは?

電子線分析法(Electron Beam Analysis) は、電子線を金属に当てて、成分や構造を分析する方法 です。
X線を使う分析(X線解析法)と似ていますが、電子を使うことで より細かい部分を分析できる という特徴があります。

金属の成分(元素)や微細な構造を高精度で測定できる!
ナノレベルの分析が可能!(電子顕微鏡と組み合わせる)
金属材料・半導体・ナノテクノロジー・生物学分野でも活躍!


1. 電子線分析法とは?

電子線分析法は、電子線(高エネルギーの電子ビーム)を試料に当てたときに発生する信号を測定し、成分や構造を分析する方法 です。
特に、金属の 成分分析・微細構造の観察・結晶構造の解析 に適しています。

🔍 「この金属はどんな成分でできている?」元素分析!
🔍 「この金属の内部構造はどうなっている?」微細構造の観察!
🔍 「この金属の結晶の向きは?」結晶構造の解析!


2. 電子線分析法の種類

電子線分析法には、主に 「走査型電子顕微鏡(SEM)」「透過型電子顕微鏡(TEM)」 の2種類があります。

(1) 走査型電子顕微鏡(SEM)

表面の微細構造や形状を高倍率で観察できる!
元素分析(EDX, EPMA)と組み合わせると、成分まで分析できる!

💡 仕組み 1️⃣ 電子ビームを金属の表面に当てる
2️⃣ 金属から反射した電子を検出する(表面の形を観察!)
3️⃣ 同時に発生するX線を測定すると、成分(元素)分析も可能!

💡 使われる場面

  • 金属表面の微細なキズや凹凸の観察
  • 自動車部品・電子部品の不良解析
  • ナノ材料や半導体の構造観察

(2) 透過型電子顕微鏡(TEM)

金属の内部構造や原子レベルの分析が可能!
電子回折(結晶構造解析)もできる!

💡 仕組み 1️⃣ 電子ビームを金属の薄い試料に透過させる
2️⃣ 電子が通過した像を撮影(透過像の観察!)
3️⃣ 結晶構造のパターンを解析して、結晶の向きや種類を分析!

💡 使われる場面

  • ナノ材料・合金の微細構造解析
  • 金属の欠陥や結晶の向きの解析
  • 半導体デバイスの内部構造解析

3. 電子線分析法の測定方法

電子線分析法では、電子ビームによって発生するさまざまな信号を測定し、異なる情報を得ることができます。

(1) エネルギー分散型X線分析(EDX, EDS)

電子線を当てて発生するX線を測定し、元素を特定!
SEMやTEMと組み合わせて、微小領域の成分分析が可能!

💡 使われる場面

  • 金属や半導体の微小領域の成分分析
  • 異物や不良の原因調査
  • ナノ材料の元素分布の測定

(2) 電子プローブマイクロアナライザー(EPMA)

X線を波長ごとに分けて測定することで、より高精度な成分分析が可能!
広い範囲の元素分布を測定できる!

💡 使われる場面

  • 金属材料の微量成分分析
  • 合金や半導体の成分分布測定
  • 鉱物やセラミックスの元素分析

(3) 電子回折(SAED, EBSD)

電子の回折パターンを測定し、結晶構造や向きを解析!
TEM(透過型電子顕微鏡)やSEMと組み合わせて使用!

💡 使われる場面

  • 金属の結晶方位や結晶粒の解析
  • 合金やナノ材料の結晶構造の研究
  • 半導体や電子部品の品質管理

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4.電子線分析法の基本情報

5.主な特徴

6.主な分析手法と得られる情報

7.表示単位

8. 電子線分析法に使う装置

(1) 走査型電子顕微鏡(SEM)

(2) 透過型電子顕微鏡(TEM)

(3) エネルギー分散型X線分析装置(EDX, EDS)

(4) 電子プローブマイクロアナライザー(EPMA)


9. 電子線分析法が活躍する場面

(1) 金属材料の成分分析

(2) 半導体・電子部品の品質管理

(3) ナノ材料・薄膜の分析

(4) 医療・生体材料の研究


10. 電子線分析法のメリット・デメリット

✅ メリット

❌ デメリット


11. まとめ

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